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机构 日期 题名 作者
國立成功大學 2022-07 Efficient Test Compression Configuration Selection Ye;Chong-Siao;Zheng;Shi-Xuan;Tsai;Fong-Jyun;Wang;Chen;Lee;Kuen-Jong;Cheng;Wu-Tung;Reddy;Sudhakar, M.;Zawada;Justyna;Kassab;Mark;Rajski;Janusz
國立成功大學 2020-06 Generating Single- and Double-Pattern Tests for Multiple CMOS Fault Models in One ATPG Run Kung;Yi-Cheng;Lee;Kuen-Jong;Reddy;Sudhakar, M.
國立成功大學 2018-11 A Repair-for-Diagnosis Methodology for Logic Circuits Wu;Cheng-Hung;Lin;Sheng-Lin;Lee;Kuen-Jong;Reddy;Sudhakar, M.

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