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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2018-08-21T05:54:06Z Characterization of BaPbO3 and Ba(Pb1-xBix)O-3 thin films Sun, CL; Wang, HW; Chang, MC; Lin, MS; Chen, SY
國立交通大學 2018-08-21T05:53:56Z Electrical and structural characteristics of PbTiO3 thin films with ultra-thin Al2O3 buffer layers Sun, CL; Chen, SY; Yang, MY; Chin, A
國立交通大學 2014-12-08T15:43:40Z Stack gate PZT/Al2O3 one transistor ferroelectric memory Chin, A; Yang, MY; Sun, CL; Chen, SY
國立交通大學 2014-12-08T15:43:26Z Ferroelectric characteristics of oriented Pb(Zr1-xTix)O-3 films Chen, SY; Sun, CL
國立交通大學 2014-12-08T15:43:18Z Characteristics of Pb(Zr0.53Ti0.47)O-3 on metal and Al2O3/Si substrates Sun, CL; Chen, SY; Yang, MY; Chin, A
國立交通大學 2014-12-08T15:42:38Z Effect of annealing temperature on physical and electrical properties of Bi3.25La0.75Ti3O12 thin films on Al2O3-buffered Si Sun, CL; Chen, SY; Chen, SB; Chin, A
國立交通大學 2014-12-08T15:42:29Z Bi3.25La0.75Ti3O12 thin films on ultrathin Al2O3 buffered Si for ferroelectric memory application Chen, SY; Sun, CL; Chen, SB; Chin, A
國立交通大學 2014-12-08T15:41:18Z Electrical and structural characteristics of PbTiO3 thin films with ultra-thin Al2O3 buffer layers Sun, CL; Chen, SY; Yang, MY; Chin, A
國立交通大學 2014-12-08T15:41:18Z Characterization of BaPbO3 and Ba(Pb1-xBix)O-3 thin films Sun, CL; Wang, HW; Chang, MC; Lin, MS; Chen, SY
國立交通大學 2014-12-08T15:41:16Z Effect of Zr/Ti ratios on characterization of Pb(ZrxTi1-x)O-3 thin films on Al2O3 buffered Si for one-transistor memory applications Sun, CL; Hsu, JJ; Chen, SY; Chin, A

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