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机构 日期 题名 作者
淡江大學 2015-03 Sensitivity analysis of sample allocation and measurement frequency under a degradation test with Gamma process Chiang, Jyun-You;Sung, Wen-Yun;Tsai, Tzong-Ru;Lio, Yuh-Long
淡江大學 2014-01 Statistical Process Control for Monitoring a Diffusion Process Tsai, Tzong-Ru; Chang, Shing I; Chou, Shih-Hsiung; Chiang, Jyun-You; Sung, Wen-Yun
淡江大學 2014 Optimal strategy for two-variable accelerated degradation tests using Gamma process 宋文筠; Sung, Wen-Yun
淡江大學 2013-09-14 Statistical process control for monitoring a diffusion process Tsai, Tzong-Ru; Chang, Shing I; Chou, Shih-Hsiung; Chiang, Jyun-You; Sung, Wen-Yun

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