臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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國立交通大學	2014-12-12T02:30:43Z	CMOS元件1/f雜訊特性分析與模擬	邱凱翎; Kai-Ling Chiu; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:30:42Z	LDMOS功率元件特性分析及可靠性研究	李兆琪; Chao Chi Lee; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:30:39Z	SONOS元件內儲存電子之能量分佈與傳輸行為	江欣凱; Hsin-Kai Chiang; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:30:38Z	積體電路元件中因氧化層漏電所引發可靠性問題的探討	鄒年凱; Niain-Kai Zous; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:28:17Z	研究及控制離子佈植產生缺陷所引發之異常擴散在0.13微米及以下元件設計上的應用	王志豪; Chih-Hao Wang; 汪大暉; Tahui wang
國立交通大學	2014-12-12T02:25:32Z	鐵電記憶元件特性量測與電路模擬	李學儀; Shyue-Yi Lee; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:25:32Z	氮化矽記憶元件可靠性量測與分析	古紹泓; Shau-Hong Ku; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:25:24Z	射頻CMOS雜訊數值模擬	張育造; Yu-Tsao Chang; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:24:20Z	氮化矽記憶體資料保存行為之數值分析模擬	許智維; Hsu Chih-Wei; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:23:22Z	氮化矽快閃記憶體可靠性量測與分析	馬煥淇; Ma, Huan-chi; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:23:21Z	深次微米元件中熱載子效應所引發之氧化層可靠度	蔣汝平; Lu-Ping Chiang; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:23:13Z	超薄閘極氧化層電荷傳輸和C-V模擬與特性	陳旻政; Min-Cheng Chen; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:20:45Z	薄氧化層n型與p 型金氧半元件中熱載子效應對汲極電流的退化	黃立元; Li-Yuan Huang; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:20:45Z	射頻CMOS特性量測與電路模式	韓承憲; Cheng Xian Han; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:17:28Z	利用暫態電流量測技術研究超大型積體電路元件中氧化層之可靠度	張澤恩; Chang, Tse-En; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:17:27Z	薄氧化層的金氧半元件中閘極漏電流之模式	沈冠岳; Shen, Kuan-Yueh; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:17:23Z	一種量測快閃式記憶體元件中微量漏電流的新式方法	王智弘; Wang, Chih-Hung; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:15:36Z	次微米n-MOS在低汲極偏壓下,因電子間的交互作用所產生之閘極漏電流	林紹祺; Lin, Shao-Chi; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:15:29Z	一種新式氧化層缺陷量測方法	蔣汝平; Chiang, Lu-Ping; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:13:54Z	三維微電子真空元件模擬	李殷; Yiin Lee; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:13:48Z	寄生在CMOS中之BJT的特性分析與模式	廖婉妤; Wan-Yu Liao; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:13:46Z	次微米MOS中的熱載子效應	陳君強; Jiun-Chiang Chen; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:13:38Z	單晶微波積體電路之元件傳輸物理、元件模式化與一2 GHz降頻器之設計	謝定華; Ting-Hua Hsieh; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:12:11Z	量子井面向雷射特性與數值模擬	陳瑞益; Re-Yi Chen; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:10:39Z	三維真空微電子場放射元件模擬器	蔡文哲; Wen-Jer Tsai; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:10:38Z	二維量子井半導體雷射模擬	葉文中; Wen-Jong Yeh; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:37:28Z	新型PHINES和PREM快閃記憶體及氮化矽型發光電晶體之研究	葉致鍇; Chih-Chieh Yeh; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:34:20Z	超薄氧化層n-MOSFET元件之低頻雜訊分析	游建文; Jian-Wen You; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:31:58Z	氮化矽記憶元件內電荷分佈與可靠性分析	王銘德; Ming-Te Wang; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:20:53Z	類比電路中之n型金氧半導體場效電晶體元件汲極電流低頻雜訊之探討	吳俊威; Jun-Wei Wu; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:13:37Z	利用特殊接觸電極進行橫向擴散元件之特性分析與SPICE模型建立	熊勖廷; Hsu-Ting Shiung; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:13:34Z	利用RTS 方法研究SONOS 快閃記憶體寫入/抹除電荷之橫向分佈特性	趙元鵬; Yuan-Peng Chao; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:13:33Z	SONOS記憶體因寫入電子之隨機特性造成臨界電壓擾動之模擬分析	林彥君; Yen-Chen Lin; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:13:31Z	矽及鍺通道P型金氧半電晶體二維量子井模擬	邱子華; Tzu-Hua Chiu; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:13:13Z	以NafionTM/PR包埋結構作為REFET參考場效電晶體感測層之研究	陳明聰; Ming-Cong Chen; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T01:13:12Z	利用氧化提昇矽鍺奈米線生物感測器之靈敏度	趙文全; Wen-Chuan Chao; 汪大暉; Tahui Wang

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