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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T05:53:08Z	Test of equivalence and non-inferiority for diagnostic accuracy based on the paired areas under ROC curves	Liu, J.-P.;Ma, M.-C.;Wu, C.-Y.;Tai, J.-Y.; Liu, J.-P.; Ma, M.-C.; Wu, C.-Y.; Tai, J.-Y.; JEN-PEI LIU
國立臺灣科技大學	2004	Dynamic State-Dependent Dispatching for Wafer Fabrication	Chen, J. C. ; Chen, C. W. ; Tai, J. Y. ; Tyan, J. C.

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