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教育部委托研究计画 计画执行:国立台湾大学图书馆
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"tan fl"的相关文件
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2014-12-08T15:06:16Z |
CURRENT MULTIPLICATION IN MIS STRUCTURES
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SPECIFIC CONTACT RESISTIVITY MEASUREMENT BY A VERTICAL KELVIN TEST STRUCTURE
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ELLIPSOMETRY STUDY ON REFRACTIVE-INDEX PROFILES OF THE SIO2/SI3N4/SIO2/SI STRUCTURE
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TIEN, SC; CHUNG, LL; TAN, FL |
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