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机构 日期 题名 作者
國立成功大學 2009-05-08 高頻自動量測系統之建立及其應用在深次微米元件高頻特性之研究 湯懋泉; Tang, Mao-Chyuan
國立成功大學 2009-05-08 高頻自動量測系統之建立及其應用在深次微米元件高頻特性之研究 湯懋泉; Tang, Mao-chyuan
國立成功大學 2009-04 Hot-Carrier and Fowler-Nordheim (FN) Tunneling Stresses on RF Reliability of 40-nm PMOSFETs With and Without SiGe Source/Drain Tang, Mao-Chyuan; Fang, Yean-Kuen; Chen, David C.; Yeh, Chune-Sin
國立成功大學 2008-11-21 Effect of hot carrier stress on RF reliability of 40 nm PMOSFETs with and without SiGe source/drain Tang, Mao-Chyuan; Fang, Yean-Kuen; Wei, Sun-Chin; Chen, David C.; Yeh, Chune-Sin; Huang-Lu, Shiang
國立成功大學 2008-06 Investigation and modeling of hot carrier effects on performance of 45-and 55-nm NMOSFETs with RF automatic measurement Tang, Mao-Chyuan; Fang, Yean-Kuen; Liao, Wen-Shiang; Chen, David C.; Yeh, Chune-Sin; Chien, Shan-Chieh
國立臺灣大學 2008 PMOS Hole Mobility Enhancement Through SiGe Conductive Channel and Highly Compressive ILD- SiNx Stressing Layer Liao, Wen-Shiang; Liaw, Yue-Gie; Tang, Mao-Chyuan; Chen, Kun-Ming; Huang, Sheng-Yi; Peng, C.-Y.; Liu, Chee Wee
臺大學術典藏 2008 PMOS Hole Mobility Enhancement Through SiGe Conductive Channel and Highly Compressive ILD- SiNx Stressing Layer Liao, Wen-Shiang; Liaw, Yue-Gie; Tang, Mao-Chyuan; Chen, Kun-Ming; Huang, Sheng-Yi; Peng, C.-Y.; Liu, Chee Wee; Liao, Wen-Shiang; Liaw, Yue-Gie; Tang, Mao-Chyuan; Chen, Kun-Ming; Huang, Sheng-Yi; Peng, C.-Y.; Liu, Chee Wee
國立成功大學 2006-04 Systematic analysis and modeling of on-chip spiral inductors for complementary metal oxide semiconductor radio frequency integrated circuits applications Tang, Mao-Chyuan; Fang, Yean-Kuen; Yeh, Wen-Kuan; Chen, S. H.; Yeh, Ta-Hsun

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