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机构 日期 题名 作者
國立成功大學 2009-12 Mechanisms of Hot-Carrier-Induced Threshold-Voltage Shift in High-Voltage p-Type LDMOS Transistors Chen, Jone F.; Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Shiang-Yu; Wu, Kuo-Ming; Shih, J. R.; Wu, Kenneth
國立成功大學 2009-09 An Investigation on Anomalous Hot-Carrier-Induced On-Resistance Reduction in n-Type LDMOS Transistors Chen, Jone F.; Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Shiang-Yu; Wu, Kuo-Ming; Shih, J. R.; Wu, Kenneth
國立成功大學 2009-06-15 橫向擴散金氧半電晶體因熱載子造成元件特性退化之研究 田昆玄; Tian, Kuen-Shiuan
國立成功大學 2009-06-15 橫向擴散金氧半電晶體因熱載子造成元件特性退化之研究 田昆玄; Tian, Kuen-Shiuan
國立成功大學 2009-04 Mechanism and Modeling of On-Resistance Degradation in n-Type Lateral Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors Chen, Jone F.; Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Shiang-Yu; Wu, Kuo-Ming; Liu, C. M.
國立成功大學 2008-09 On-resistance degradation induced by hot-carrier injection in LDMOS transistors with STI in the drift region Chen, Jone F.; Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Shiang-Yu; Wu, Kuo-Ming; Liu, C. M.
國立成功大學 2008-07-31 Gate current dependent hot-carrier-induced degradation in LDMOS transistors Chen, Jone F.; Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Shiang-Yu; Lee, J. R.; Wu, Kuo-Ming; Huang, T. Y.; Liu, C. M.
國立成功大學 2008-06-16 Mechanism and lifetime prediction method for hot-carrier-induced degradation in lateral diffused metal-oxide-semiconductor transistors Chen, Jone F.; Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Shiang-Yu; Lee, J. R.; Wu, Kuo-Ming; Liu, C. M.
國立成功大學 2008-04 An investigation on hot-carrier reliability and degradation index in lateral diffused metal-oxide-semiconductor field-effect transistors Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Jone F.; Chen, Shiang-Yu; Wu, Kuo-Ming; Lee, J. R.; Huang, Tsung-Yi; Liu, C. A.; Hsu, S. L.
國立成功大學 2006-06-14 不同輕摻雜濃度之n型通道橫向擴散金氧半場效電晶體其特性及熱載子可靠度之研究 田昆玄; Tian, Kuen-Shiuan
國立成功大學 2006-06-14 不同輕摻雜濃度之n型通道橫向擴散金氧半場效電晶體其特性及熱載子可靠度之研究 田昆玄; Tian, Kuen-Shiuan

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