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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:07:45Z	Electromigration and Thermomigration in Pb-Free Flip-Chip Solder Joints	Chen, Chih; Tong, H. M.; Tu, K. N.
國立臺灣大學	2012	Elimination of voids in reactions between Ni and Sn: A novel effect of silver	Chuang, H.Y.; Yu, J.J.; Kuo, M.S.; Tong, H.M.; Kao, C.R.

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