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國立交通大學 2014-12-13T10:38:27Z 積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:38:10Z 積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象之修正良率模式 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:38:10Z 臺灣筆記型電腦全面品質管理標竿建立及分析---子計畫四:顧客滿意度和意見回饋 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:37:31Z 應用良率分析於生產不同積體電路產品之生產線製造績效評估之研究 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:37:09Z 台灣筆記型電腦全面品質管理標竿建立及分析---子計畫IV:台灣筆記型電腦全面品質管理標竿---顧客滿意度和意見回饋 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:36:02Z 建構積體電路之多特性多量測點資料之管制流程 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:36:02Z 動態系統中等級類別資料之參數最佳化 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:34:21Z 半導體製造之資料探勘技術與知識網絡建立---子計畫III:以製程改善為目標之晶圓廠線上資料探勘與知識管理技術(I) 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:34:11Z 半導體製造之資料探勘技術與知識網絡建立---子計畫三:以製程改善為目標之晶圓廠線上資料探勘與知識管理技術(II) 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-13T10:31:52Z 半導體製造之資料探勘技術與知識網絡建立---子計畫三:以製程改善為目標之晶圓廠線上資料探勘與知識管理技術(III) 唐麗英; TONG LEE-ING

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