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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上利用類神經網路方法修正缺陷群聚現象之管制圖	王永慶; Wang, Yung-Ching; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究	黃建隆; Huang, Chien-Lung; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I

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