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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2012-06	A novel method to improve cell endurance window in source-side injection split gate flash memory	Tsair, Yong-Shiuan; Fang, Yean-Kuen; Juang, Feng-Renn; Wang, Yu-Hsiung; Chu, Wen-Ting; Lin, Yung-Tao; Tran, Luan

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