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机构 日期 题名 作者
國立成功大學 2023-01-09 模擬貝爾不定域相關性之古典通訊成本 蔡柏安; Tsai, Bo-An
國立交通大學 2017-04-21T06:49:28Z Low-temperature Microwave Annealing Processes for Future IC Fabrication Lee, Yao-Len; Tsai, Bo-An; Cho, Ta-Chun; Hsueh, Fu-Kuo; Sung, Po-Jung; Lai, Chiung-Hui; Luo, Chih-Wei; Chao, Tien-Sheng
國立交通大學 2014-12-12T02:39:50Z 低溫微波退火在互補式金氧半場效電晶體之研究 蔡博安; Tsai, Bo-An; 李耀仁; 羅志偉; Lee, Yao-Jen; Luo, Chih-Wei
國立交通大學 2014-12-08T15:43:49Z Using spike-anneal to reduce interfacial layer thickness and leakage current in metal-oxide-semiconductor devices with TaN/Atomic layer deposition-grown HfAlO/chemical oxide/Si structure Tsai, Bo-An; Lee, Yao-Jen; Peng, Hsin-Yi; Tzeng, Pei-Jer; Luo, Chih-wei; Chang-Liao, Kuei-Shu
國立交通大學 2014-12-08T15:32:16Z Low-Temperature Microwave Annealing for MOSFETs With High-k/Metal Gate Stacks Lee, Yao-Jen; Tsai, Bo-An; Lai, Chiung-Hui; Chen, Zheng-Yao; Hsueh, Fu-Kuo; Sung, Po-Jung; Current, Michael I.; Luo, Chih-Wei
國立交通大學 2014-12-08T15:24:06Z Low-Temperature Microwave Annealing Process for Dopant Activation and Thermal Stability of TiN Material Tsai, Bo-An; Lai, Chiung-Hui; Lee, Bo-Shiun; Luo, Chih-Wei; Lee, Yao-Jen
國立成功大學 2006-07-05 使用音射原理的簡易型部分放電檢測器 蔡博安; Tsai, Bo-An

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