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國立臺灣科技大學 2015 Effect of Ag Templates on the Formation of Au-Ag Hollow/Core-Shell Nanostructures Tsai, C.-H.;Chen, S.-Y.;Song, J.-M.;Haruta, M.;Kurata, H.
國立臺灣科技大學 2015 Spontaneous growth of ultra-thin titanium oxides shell on Ag nanowires: an electron energy loss spectroscope observation Tsai, C.-H.;Chen, S.-Y.;Song, J.-M.;Gloter, A.
國立臺灣大學 2015 TET2 ALTERATIONS IN TAIWANESE CHILDHOOD ACUTE MYELOID LEUKEMIA Li, M. J.; Lin, D. T.; Tsai, F. J.; Tsai, C. H.; Peng, C. T.; 李孟儒; 林東燦
臺大學術典藏 2015 Combination of feature engineering and ranking models for paper-author identification in KDD Cup 2013 Su, Y.-C.; Lin, T.-W.; Tsai, C.-H.; Chang, W.-C.; Huang, K.-H.; Kuo, T.-M.; Lin, S.-W.; Lin, Y.-S.; Lu, Y.-C.; Yang, C.-P.; Chang, C.-X.; Chin, W.-S.; Juan, Y.-C.; Tung, H.-Y.; Wang, J.-P.; Wei, C.-K.; Wu, F.; Yin, T.-C.; Yu, T.; Zhuang, Y.; Lin, S.-D.; Lin, H.-T.; Lin, C.-J.; Li, C.-L.; SHOU-DE LIN et al.
國立交通大學 2014-12-08T15:48:25Z The ballistic transport and reliability of the SOI and strained-SOI nMOSFETs with 65nm node and beyond technology Hsieh, E. R.; Chang, Derrick W.; Chung, S. S.; Lin, Y. H.; Tsai, C. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.
國立交通大學 2014-12-08T15:48:21Z New Observation of an Abnormal Leakage Current in Advanced CMOS Devices with Short Channel Lengths Down to 50nm and Beyond Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Lin, Y. H.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學 2014-12-08T15:45:53Z More Strain and Less Stress- The Guideline for Developing High-End Strained CMOS Technologies with Acceptable Reliability Chung, Steve S.; Hsieh, E. R.; Huang, D. C.; Lai, C. S.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.; Chien, S. C.; Sun, S. W.
國立交通大學 2014-12-08T15:39:25Z The Understanding of Strain-Induced Device Degradation in Advanced MOSFETs with Process-Induced Strain Technology of 65nm Node and Beyond Lin, M. H.; Hsieh, E. R.; Chung, Steve S.; Tsai, C. H.; Liu, P. W.; Lin, Y. H.; Tsai, C. T.; Ma, G. H.
國立交通大學 2014-12-08T15:33:43Z The improvement of catalytic efficiency by optimizing Pt on carbon cloth as a cathode of a microbial fuel cell Yen, S. J.; Tsai, M. C.; Wang, Z. C.; Peng, H. L.; Tsai, C. H.; Yew, T. R.
國立交通大學 2014-12-08T15:32:43Z The Understanding of the Bulk Trigate MOSFET's Reliability Through the Manipulation of RTN Traps Hsieh, E. R.; Wu, P. C.; Chung, Steve S.; Tsai, C. H.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.

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