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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2019-04-02T06:04:48Z	Root Cause Analysis and Correction of Single Metal Contact Open-Induced Scan Chain Failure in 90nm node VLSI	Ting, Chao-Cheng; Liu, Ya-Chi; Chen, Hsuan-Hsien; Tsai, Chung-Ching; Shih, Liwen

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