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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	1987	Degradation and Annealing Characteristics of Amorphous Silicon Hydrogen Alloys After Long Time Test	Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1987	The Amorphous SiC/Si Two Color Detector	Tsai, H. K.; 李嗣涔; Lin, W. L.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen; Lin, W. L.
國立臺灣大學	1987	Long-Time Repeated Photodegradation Test of Amorphous Silicon Hydrogen Alloys	Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1987	The Amorphous SiC/Si Color Detector	李嗣涔; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.
國立臺灣大學	1987	The Amorphous SiC/Si Three Color Detector	Tsai, H. K.; 李嗣涔; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1987	The a-SiC:H/a-Si:H Two and Three-Color Detectors with High Rejection Ratio	Tsai, H. K.; 李嗣涔; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1987	The Characteristics of a-SiC:H	Lin, W. L.; Tsai, H. K.; Sah, Wen-Jyh; 李嗣涔; Lin, W. L.; Tsai, H. K.; Sah, Wen-Jyh; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1987	The Amorphous SiC/Si Three Color Detector	Tsai, H. K.;李嗣涔; Tsai, H. K.;Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1987	The a-SiC:H/a-Si:H Two and Three-Color Detectors with High Rejection Ratio	Tsai, H. K.;李嗣涔; Tsai, H. K.;Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1987	The Characteristics of a-SiC:H	Lin, W. L.;Tsai, H. K.;Sah, Wen-Jyh;李嗣涔; Lin, W. L.;Tsai, H. K.;Sah, Wen-Jyh;Lee, Si-Chen; Lin, W. L.; Tsai, H. K.; Sah, Wen-Jyh; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1987	Degradation and Annealing Characteristics of Amorphous Silicon Hydrogen Alloys After Long Time Test	Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1987	The Amorphous SiC/Si Two Color Detector	Lin, W. L.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Lin, W. L.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1986	Origin of Boron Contamination of Intrinsic a-Si:H in Glow Discharge	Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1986	Origin of Boron Contamination of Intrinsic a-Si:H in Glow Discharge	Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;李嗣涔; Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1985	High Quality a-Si:H Prepared by Low Frequency Glow-Discharge	Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1985	Stability of a-Si:H	Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Hong, C. S.; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen; Hong, C. S.
臺大學術典藏	1985	High Quality a-Si:H Prepared by Low Frequency Glow-Discharge	Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;李嗣涔; Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1985	Stability of a-Si:H	Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;李嗣涔;Hong, C. S.; Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;Lee, Si-Chen;Hong, C. S.; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Hong, C. S.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
淡江大學	1912-01	High quality a-Si:H prepared by low frequency glow discharge	Tzeng, W. J.; 曾文哲 ; Tsai, H. K. ; Lee, Si-chen
淡江大學	1912-01	Long-time repeated photo-degradation test of amorphous silicon hydrogen alloys	Tzeng, W. J.; 曾文哲 ; Tsai, H. K. ; Lee, Si-chen

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