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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2014-01-03	Retention Failure Mechanism for Low-Resistance-States of Cu-doped SiO2 Resistive Memory	Liu, Chih-Yi; Tsai, Yueh-Ying; Liu, Shih-Kun; Huang, Yung-Hung
國立高雄應用科技大學	2013	利用不同電漿處理之二氧化矽電阻式記憶體特性研究	蔡岳穎; Tsai, Yueh-Ying

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