|
|
???tair.name??? >
???browser.page.title.author???
|
"tsang k l"???jsp.browse.items-by-author.description???
Showing items 1-12 of 12 (1 Page(s) Totally)
1
View [10|25|50] records per page
| 臺大學術典藏 |
2022-08-09T03:50:57Z |
Electronic and atomic structures of Si-C-N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
|
Pong W.F.; Chang Y.K.; Hsieh H.H.; Tsai M.-H.; Lee K.H.; Dann T.E.; Chien F.Z.; Tseng P.K.; Tsang K.L.; Su W.K.; Chen L.C.; Wei S.L.; Chen K.H.; Bhusari D.M.; Chen Y.F.; Pong W.F.; Chen L.C.; Wei S.L.; Chen Y.F.; LI-CHYONG CHEN |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T06:54:27Z |
Electronic and atomic structures of Si-C-N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
|
Chang, Y.K.; Hsieh, H.H.; Tsai, M.-H.; Lee, K.H.; Dann, T.E.; Chien, F.Z.; Tseng, P.K.; Tsang, K.L.; Su, W.K.; Chen, L.C.; Wei, S.L.; Chen, K.H.; Bhusari, D.M.; Chen, Y.F.; YANG-FANG CHEN |
| 淡江大學 |
2000-12 |
Electronic properties of the diamond films with nitrogen impurities: An x-ray absorption and photoemission spectroscopy study
|
Chang, Y. D.; Chiu, A. P.; Pong, W. F.; Tsai, M. H.; Chang, Y. K.; Chen, Y. Y.; Chiou, J. W.; Jan, C. J.; Tseng, P. K.; Wu, R. T.; Chung, S. C.; Tsang, K. L.; Lin, I. N.; Cheng, H. F. |
| 淡江大學 |
1998-10 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
|
Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, Way-faung; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 淡江大學 |
1998-06 |
Electronic structure of Ni-Cu alloys : the d-electron charge distribution
|
Hsieh, H. H.; Chang, Y. K.; Pong, Way-faung; Pieh, J. Y.; Tseng, P. K.; Sham, T. K.; Coulthard, I.; Naftel, S. J.; Lee, J. F.; Chung, S. C.; Tsang, K. L. |
| 淡江大學 |
1998-05 |
Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
|
Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998-01 |
Electronic and Atomic Structures of SiCN Thin Film by X-ray Absorption Spectroscopy
|
Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998-01 |
Electronic and Atomic Structures of SiCN Thin Films by X-ray Absorption Spectroscopy and Theoretical Calculations
|
Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, D. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Chen, Y. F.; Bhusari, D. M. |
| 國立臺灣大學 |
1998 |
Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
|
Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. -H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
|
Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 臺大學術典藏 |
1998 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
|
Hsieh, H.H.; Pong, W.F.; Tsai, M.-H.; Lee, K.H.; Dann, T.E.; Chien, F.Z.; Tseng, P.K.; Tsang, K.L.; Su, W.K.; Chen, L.C.; Wei, S.L.; Chen, K.H.; Bhusari, D.M.; Chen, Y.F.; YANG-FANG CHEN |
| 淡江大學 |
1996-12 |
Oxygen 1s x-ray-absorption near-edge structure of Zn-Ni ferrites : a comparison with the theoretical calculations
|
Pong, Way-faung; Su, M. H.; Tsai, M. H.; Hsieh, H. H.; Pieh, J. Y.; Chang, Y. K.; Kuo, K. C.; Tseng, P. K.; Lee, J. F.; Chung, S. C.; Chen, C. I.; Tsang, K. L.; Chen, C. T. |
Showing items 1-12 of 12 (1 Page(s) Totally)
1
View [10|25|50] records per page
|
