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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2014-06-01	Failure Mechanism for GaN-Based High-Voltage Light-Emitting Diodes	Chang, Shoou-Jinn; Chang, Chung-Ying; Tseng, Chun-Lung; Shen, Ching-Shing; Chen, Bing-Yang

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