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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:37:10Z Study on etching profile of nanoporous silica Chen, CW; Chang, TC; Liu, PT; Tsai, TM; Wu, HH; Tseng, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:37:10Z Study on the effect of electron beam curing on low-K porous organosilicate glass (OSG) material Chang, TC; Tsai, TM; Liu, PT; Chen, CW; Tseng, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:37:10Z Cu-penetration induced breakdown mechanism for a-SiCN Chen, CW; Liu, PT; Chang, TC; Yang, JH; Tsai, TM; Wu, HH; Tseng, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:37:06Z Effects of oxygen plasma ashing on barrier dielectric SiCN film Chen, CW; Chang, TC; Liu, PT; Tsai, TM; Tseng, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:37:01Z Characteristics and electrochemical performance of supercapacitors with manganese oxide-carbon nanotube nanocomposite electrodes Lee, CY; Tsai, HM; Chuang, HJ; Li, SY; Lin, P; Tseng, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:36:06Z Electrical degradation of N-channel poly-Si TFT under AC stress Chen, CW; Chang, TC; Liu, PT; Lu, HY; Tsai, TM; Weng, CF; Hu, CW; Tseng, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:27:53Z THE INVESTIGATION OF ER-DOPED GLASSES BY 2-STEP HYDROLYSIS WITH N,N-DIMETHYL FORMAMIDE FRAN, YS; TSENG, TY; HSIEH, WF
國立交通大學 2014-12-08T15:27:38Z Luminescent properties of sol-gel prepared Y3Al5O12:Tb thin films Lo, JR; Tseng, TY; Tyan, JH; Huang, JCM
國立交通大學 2014-12-08T15:27:13Z Properties and reliability of Ta2O5 thin films deposited on Ta Ezhilvalavan, S; Tseng, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:26:33Z A novel method to characterize the dielectric and interfacial properties of Ba0.5Sr0.5TiO3 (BST)/Si by microwave measurement Lue, HT; Tseng, TY; Huang, GW

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