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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2017-07-27	晶圓片缺陷檢測的遮蔽效應之探討	曾姿翊; Tseng, Tzu-Yi
國立交通大學	2014-12-08T15:12:01Z	Study on degradation of crystallized laterally grown poly-Si TFT under Dynamic Stress	Lu, Hau-Yan; Chung, Wan-Fang; Tseng, Tzu-Yi; Chen, Yu-Cheng; Liu, Po-Tsun; Chang, Ting-Chang; Chi, Sien

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