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2014-12-08T15:46:51Z |
Fuzzy-based CMOS circuit partitioning in built-in current testing
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2014-12-08T15:45:29Z |
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Fuzzy-based circuit partitioning in built-in current testing
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Tseng, WD; Wang, KC |
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Fault coverage estimation model for partially testable multichip modules
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Tseng, WD; Wang, KC |
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