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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2020-10-05T02:01:56Z Well-behaved Ge n(+)/p shallow junction achieved by plasma immersion ion implantation Chen, Yi-Ju; Liao, Hsiu-Hsien; Tsui, Bing-Yue; Lee, Yao-Jen; Wang, Chih-Jen; Sung, Po-Jung
國立交通大學 2020-10-05T02:00:30Z Failure Analysis on TiAl Metallization Process for Ohmic Contact on 4H-SiC pMOSFET Hung, Chia-Lung; Cheng, Jung-Chien; Tsui, Bing-Yue
國立交通大學 2020-10-05T01:59:47Z Reduction of Contact Resistivity by Nano-Textured Contact Tsui, Bing-Yue; Lee, Ya-Hsin; Lee, Chen-Yi
國立交通大學 2020-05-05T00:02:21Z Degradation Mechanism of Ge N+-P Shallow Junction With Thin GeSn Surface Layer Chen, Yi-Ju; Liao, Hsiu-Hsien; Tsui, Bing-Yue
國立交通大學 2020-05-05T00:01:32Z Photon-Detection-Probability Simulation Method for CMOS Single-Photon Avalanche Diodes Lin, Sheng-Di; Hsiao, Bo-Jen; Tsui, Bing-Yue; Hsieh, Chin-An; Tsai, Chia-Ming
國立交通大學 2020-04-01 Well-behaved 4H-SiC PMOSFET with LOCal oxidation of SiC (LOCOSiC) isolation structure and compromised gate oxide for Sub-10V SiC CMOS application Tsui, Bing-Yue; Hung, Chia-Lung
國立交通大學 2020-02-02T23:55:33Z Thermal Stability of Shallow Ge N+-P Junction with Thin GeSn Top Layer Liao, Hsiu-Hsien; Chen, Yi-Ju; Tsui, Bing-Yue
國立交通大學 2019-04-02T06:00:30Z High-Performance Metal-Insulator-Metal Capacitors With HfTiO/Y2O3 Stacked Dielectric Tsui, Bing-Yue; Hsu, Hsiao-Hsuan; Cheng, Chun-Hu
國立交通大學 2019-04-02T05:59:58Z A comprehensive study on the oxidation of 4H-SiC in diluted N2O ambient Tseng, Yuan-Hung; Wu, Tsung-Han; Tsui, Bing-Yue; Yen, Cheng-Tyng; Hung, Chien-Chung; Lee, Chwan-Ying
國立交通大學 2019-04-02T05:59:52Z High-Performance Poly-Si Nanowire Thin-Film Transistors Using the HfO2 Gate Dielectric Lee, Chen-Ming; Tsui, Bing-Yue

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