| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:29:48Z |
高性能多閘極奈米元件技術
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崔秉鉞; Tsui Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:29:14Z |
碳摻雜矽奈米線全包覆式閘極元件技術研究
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崔秉鉞; Tsui Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:28:52Z |
高性能多閘極奈米元件技術
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崔秉鉞; Tsui Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T03:02:15Z |
氮化鈦/氧化鋁鉿/氮化鈦金氧金電容之電性分析與電壓電容係數物理模型
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黃勻珮; Huang, Yun-Pei; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:45:31Z |
碳化矽金氧半場效電晶體特性之研究暨深層暫態能譜分析系統改良
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楊昕翰; Yang, Hsin-Han; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:45:30Z |
晶粒尺寸於垂直閘極半導體-氧化矽-氮化矽-氧 化矽-半導體記憶體元件特性變異之研究
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盧立偉; Lu, Li-Wei; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:45:29Z |
利用鋁基介面層之高品質金屬-絕緣層-鍺電容器之研究
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楊易瑾; Yang, Yi-Chin; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:44:49Z |
電漿處理對二氧化鉿/矽介面層抗輻射能力之影響
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廖雪君; Liao, Syue-Jyun; 崔秉鉞; 許博淵; Tsui, Bing-Yue; Shew, Bor-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:43:41Z |
游離輻射對N型電晶體的隨機電報雜訊之影響研究
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黃致弘; Huang, Zhi-Hong; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:38:38Z |
碳化矽金氧半場效電晶體通道遷移率劣化機制之研究
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王國丞; Wang, Kuo-Cheng; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:37:58Z |
鎳鍺化物與N型鍺接面摻雜析離對於蕭基位障的影響:透過第一原理計算
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林翰奇; Lin, Han-Chi; 崔秉鉞; 林炯源; Tsui, Bing-Yue; Lin, Chiung-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:37:58Z |
鎳鍺化物接觸之N+-P鍺淺接面及接觸電阻之研究
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施哲儒; Shih,Che-Ju; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:37:19Z |
以深層暫態能譜分析碳化矽缺陷之研究暨溝槽式接面蕭基位障二極體之設計分析
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連崇德; Lien, Chong-De; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:30:42Z |
逆向基體之高功率金氧半場效應電晶體
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吳旻達; Wu Min-Da; 崔秉鉞; Tsui Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:23:43Z |
前處理對二氧化鉿閘極介電層特性的影響
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金立峰; Chin, Li-Feng; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:55:06Z |
利用低熱預算製程改善碳化矽電容介面能態密度
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翁茂元; Marvin-Ueng; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:55:01Z |
萃取接觸阻抗係數方法之比較研究──CBKR結構與改良式TLM結構
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曾炫滋; Tseng, Hsuan-Tzu; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:55:01Z |
精確且高效率之蕭基位障萃取程序
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傅子瑜; Fu, Tz-Yu; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:55:01Z |
降低金屬與N型鍺接觸電阻之研究
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高銘鴻; Kao, Ming-Hong; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:54:37Z |
游離輻射對具有不同厚度之鉿氧化物金氧半元件影響之研究
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孫銘鴻; Sung, Ming-Hung; 崔秉鉞; 許博淵; Tsui, Bing-Yue; Shew, Bor-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:54:32Z |
游離輻射對電阻式記憶體的影響之研究
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張克勤; Chang, Ko-Chin; 崔秉鉞; 許博淵; Tsui, Bing-Yue; Shew, Bor-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:46:07Z |
交絡奈米碳管網路薄膜電晶體特性之研究
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陳定業; Chen, Ting-Yeh; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:45:53Z |
介面處理對鉿氧化物之抗極紫外光輻射損傷之影響研究
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蘇婷婷; Su, Ting-Ting; 黃遠東; 崔秉鉞; 許博淵; Huang, Yang-Tung; Tsui, Bing-Yue; Shew, Bor-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:37:47Z |
矽化鎳之熱穩定性與超淺接面應用的研究
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謝志民; Hsieh, Chih-Ming; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:37:17Z |
極紫外光輻射對先進非揮發性記憶體的影響
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顏志展; Yen, Chih-Chan; 崔秉鉞; Tsui, Bing-Yue |
