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| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:04:40Z |
SERIES RESISTANCE OF SELF-ALIGNED SILICIDED SOURCE DRAIN STRUCTURE
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TSUI, BY; CHEN, MC |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:04:40Z |
EFFECT OF FLUORINE INCORPORATION ON THE THERMAL-STABILITY OF PTSI/SI STRUCTURE
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TSUI, BY; TSAI, JY; WU, TS; CHEN, MC |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:04:35Z |
DIELECTRIC DEGRADATION OF PT/SIO2/SI STRUCTURES DURING THERMAL ANNEALING
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TSUI, BY; CHEN, MC |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:03:50Z |
ROLE OF FLUORINE-ATOMS ON THE THERMAL-STABILITY OF THE SILICIDE SILICON STRUCTURE
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TSUI, BY; CHEN, MC |
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