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机构	日期	题名	作者
南台科技大學	1999-04	BIFEST: A Built-in Intermediate Fault Effect Sensing and Test Generation System for CMOS Bridging Faults	Kuen-Jong Lee; 唐經洲; Jing-Jou Tang; Tsung-Chu Huang
南台科技大學	1996-01	Combination of automatic test pattern generation and built-in intermediate voltage sensing for detecting CMOS bridging faults	Kuen-Jong Lee ; Jing-Jou Tang;Tsung-Chu Huang; Cheng-Liang Tsai; 李昆忠;唐經洲;黃宗柱

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