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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T04:49:47Z	Dynamic analog testing via ATE digital test channels	Su, CC; Chang, CS; Huang, HW; Tu, DS; Lee, C-L; Lin, Jerry CH; Su, CC; Chang, CS; Huang, HW; Tu, DS; Lee, C-L; Lin, Jerry CH; CHIA-LIN LEE
國立交通大學	2014-12-08T15:25:45Z	Dynamic analog testing via ATE digital test channels	Su, CC; Chang, CS; Huang, HW; Tu, DS; Lee, CL; Lin, JCH

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