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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:11:14Z Effect of migration and condensation of pre-existing voids on increase in bump resistance of flip chips on flexible substrates during electromigration Liang, S. W.; Chang, Y. W.; Chen, Chih; Preciado, Jackie; Tu, K. N.
國立交通大學 2014-12-08T15:11:02Z Observation of atomic diffusion at twin-modified grain boundaries in copper Chen, Kuan-Chia; Wu, Wen-Wei; Liao, Chien-Neng; Chen, Lih-Juann; Tu, K. N.
國立交通大學 2014-12-08T15:08:08Z Nonuniform and Negative Marker Displacements Induced by Current Crowding During Electromigration in Flip-Chip Sn-0.7Cu Solder Joints Liang, S. W.; Hsiao, Hsiang-Yao; Chen, Chih; Xu, Luhua; Tu, K. N.; Lai, Yi-Shao
國立交通大學 2014-12-08T15:07:45Z Electromigration and Thermomigration in Pb-Free Flip-Chip Solder Joints Chen, Chih; Tong, H. M.; Tu, K. N.
國立交通大學 2014-12-08T15:07:00Z Blocking hillock and whisker growth by intermetallic compound formation in Sn-0.7Cu flip chip solder joints under electromigration Liang, S. W.; Chen, Chih; Han, J. K.; Xu, Luhua; Tu, K. N.; Lai, Yi-Shao
國立成功大學 2013-08 Microstructure control of unidirectional growth of eta-Cu6Sn5 in microbumps on < 1 1 1 > oriented and nanotwinned Cu Lin, Han-wen; Lu, Chia-ling; Liu, Chien-min; Chen, Chih; Chen, Delphic; Kuo, Jui-Chao; Tu, K. N.
國立臺灣大學 2007 Electromigration in the Flip Chip Solder Joint of Sn-8Zn-3Bi on Copper Pads Lin, W.H.; Wu, Albert T.; Lin, S.Z.; Chuang, T.H.; Tu, K.N.
國立臺灣大學 2005-06 Electromigration-induced grain rotation in anisotropic conducting beta-tin Wu, A. T.; Gusak, A. M.; Tu, K. N.; Kao, and C. R.
國立臺灣大學 2004-09 The study of microstructure evolution of tin grains due to electromigration by using synchrotron X-ray microdiffraction Wu, A. T.; Tu, K. N.; Lloyd, J. R.; Tamura, N.; Valek, B. C.; Kao, and C. R.
國立臺灣大學 2003-11 Electromigration failure in flip chip solder joints due to rapid dissolution of copper Hu, Y. C.; Lin, Y. H.; Kao, C. R.; Tu, K. N.

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