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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:21:32Z Oxygen-Adsorption-Induced Anomalous Capacitance Degradation in Amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin-Film-Transistors under Hot-Carrier Stress Chung, Wan-Fang; Chang, Ting-Chang; Lin, Chia-Sheng; Tu, Kuan-Jen; Li, Hung-Wei; Tseng, Tseung-Yuen; Chen, Ying-Chung; Tai, Ya-Hsiang
國立交通大學 2014-12-08T15:10:21Z Illumination-Assisted Negative Bias Temperature Instability Degradation in Low Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors Lin, Chia-Sheng; Chen, Ying-Chung; Chang, Ting-Chang; Hsu, Wei-Che; Chen, Shih-Ching; Li, Hung-Wei; Tu, Kuan-Jen; Jian, Fu-Yen; Chen, Te-Chih
國立交通大學 2014-12-08T15:07:52Z Degradation of Low Temperature Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors under Negative Bias Temperature Instability Stress with Illumination Effect Lin, Chia-Sheng; Chen, Ying-Chung; Chang, Ting-Chang; Li, Hung-Wei; Hsu, Wei-Che; Chen, Shih-Ching; Tai, Ya-Hsiang; Jian, Fu-Yen; Chen, Te-Chih; Tu, Kuan-Jen; Wu, Hsing-Hua; Chen, Yi-Chan

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