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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2017-04-21T06:49:36Z	PD-SOI MOSFET Body-to-Body Leakage Scaling Trend and Optimization	Lo, H. C.; Luo, W. C.; Lu, W. Y.; Cheng, C. F.; Wu, Benny; Chen, T. L.; Lien, C. H.; Fung, Samuel K. H.; Tuan, H. C.
中原大學	2000-12	Study on the Tungsten Polycide Gate Pull-Back for the Memory Cell Device	Wu, T. W.;Chen, Y. F.;Jeng, Erik S.;Tuan, H. C.

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