臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
淡江大學	2014-09-01	Resolution dependence of the maximal information coefficient for noiseless relationship	Lee, S.-C.; Pang, N.-N.; Tzeng, W.-J.
淡江大學	2012-10	Mathematical model of heterogeneous cancer growth with an autocrine signalling pathway	Hu, G.-M.; Lee, C.-Y.; Chen, Y.-Y.; Pang, N.-N.; Tzeng, W. J.
淡江大學	1991-09	EXACT SOLUTION OF THE ROW-CONVEX POLYGON GENERATING FUNCTION FOR THE CHECKERBOARD LATTICE	Tzeng, W.J.; 曾文哲; Lin, K.Y.
淡江大學	1991-09	Exact solution of a deterministic sandpile model in one dimension	Lee, Shih-chang; Liang, N.Y.; Tzeng, W.J.
國立臺灣大學	1989	New Model for the Staebler-Wronski Effect in an Amorphous Silicon Hydrogen Alloy	Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1989	New Model for the Staebler-Wronski Effect in an Amorphous Silicon Hydrogen Alloy	Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
淡江大學	1988-06	Studies on the Stability of Amorphous Silicon Hydrogen Alloy = 非晶體矽氫穩定度的研究	Tzeng, W. J.; 曾文哲
國立臺灣大學	1988	The Identification of Infrared Absorption Peaks of Amorphous Silicon Carbon Alloy by Thermal Annealing	Lin, W. L.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Sah, Wen-Jyh; Tzeng, W. J.; Lin, W. L.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen; Sah, Wen-Jyh; Tzeng, W. J.
臺大學術典藏	1988	The Identification of Infrared Absorption Peaks of Amorphous Silicon Carbon Alloy by Thermal Annealing	Lin, W. L.; Sah, Wen-Jyh; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen; Lin, W. L.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Sah, Wen-Jyh; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
淡江大學	1987-09	Degradation and annealing characteristics of amorphous silicon-hydrogen alloys after a long-time test	Tzeng, W.J.; 曾文哲; Tsai, H.K.; Lee, Si-chen
國立臺灣大學	1987	Degradation and Annealing Characteristics of Amorphous Silicon Hydrogen Alloys After Long Time Test	Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1987	Long-Time Repeated Photodegradation Test of Amorphous Silicon Hydrogen Alloys	Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1987	Photodegradation Kinetics of a-Si:H	Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1987	Photodegradation Kinetics of a-Si:H	Tzeng, W. J.;李嗣涔; Tzeng, W. J.;Lee, Si-Chen; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1987	Degradation and Annealing Characteristics of Amorphous Silicon Hydrogen Alloys After Long Time Test	Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen; Tzeng, W. J.; Tsai, H. K.; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1986	Origin of Boron Contamination of Intrinsic a-Si:H in Glow Discharge	Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1986	Origin of Boron Contamination of Intrinsic a-Si:H in Glow Discharge	Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;李嗣涔; Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1985	High Quality a-Si:H Prepared by Low Frequency Glow-Discharge	Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
國立臺灣大學	1985	Stability of a-Si:H	Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Hong, C. S.; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen; Hong, C. S.
臺大學術典藏	1985	High Quality a-Si:H Prepared by Low Frequency Glow-Discharge	Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;李嗣涔; Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;Lee, Si-Chen; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Tzeng, W. J.; Lee, Si-Chen
臺大學術典藏	1985	Stability of a-Si:H	Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;李嗣涔;Hong, C. S.; Tsai, H. K.;Tzeng, W. J.;Lee, Si-Chen;Hong, C. S.; Tsai, H. K.; Tzeng, W. J.; 李嗣涔; Hong, C. S.; Tsai, H. K.; Lee, Si-Chen
淡江大學	1912-01	High quality a-Si:H prepared by low frequency glow discharge	Tzeng, W. J.; 曾文哲 ; Tsai, H. K. ; Lee, Si-chen
淡江大學	1912-01	Long-time repeated photo-degradation test of amorphous silicon hydrogen alloys	Tzeng, W. J.; 曾文哲 ; Tsai, H. K. ; Lee, Si-chen
淡江大學	1912-01	Photodegradation Kinetics of a-Si:H	Tzeng, W. J.; 曾文哲; Lee, Si-chen
淡江大學	1912-01	Stability of a-Si:H	Tzeng, W. J.; 曾文哲(等)

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