臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| 总笔数 :0
	造访人次 : 52837414 在线人数 : 743 教育部委托研究计画计画执行:国立台湾大学图书馆

搜寻范围

进阶搜寻

登入

管理

臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

关于TAIR
	计画说明

浏览
	典藏机构
	作者
	题名
	日期
	统计图表
	机构即时统计
	学术趋势

消息
	2019臺灣學術機構典藏研討會
	機構典藏系統RC7版本已發佈

著作权
	出版社及期刊政策查询
	TAIR著作权会议记录

相关连结
	機構典藏計畫網站
	ROAR
	OpenDOAR
	SHERPA
	OAIster
	JAIRO
	Ira
	DSPACE
	RWWR
	臺大學術典藏NTU Scholars

"venkat anil adibhatla"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序	依日期排序

显示项目 1-5 / 5 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目

机构	日期	题名	作者
元智大學	Sep-20	Defect Detection in Printed Circuit Boards Using You-Only-Look-Once Convolutional Neural Networks	Venkat Anil Adibhatla; Huan-Chuang Chih; Chi-Chang Hsu; Joseph Cheng; Maysam F. Abbod; J.S. Shieh
元智大學	May-21	Applying Deep learning to defect detection in printed circuit boards via a newest model of you-only-look-once	Venkat Anil Adibhatla; Huan-Chuang Chih; Chi-Chang Hsu; Joseph Cheng; Maysam F. Abbod; J.S. Shieh
元智大學	Dec-21	Unsupervised Anomaly Detection in Printed Circuit Boards through Student–Teacher Feature Pyramid Matching	Venkat Anil Adibhatla; Yu-Chieh Huang; Ming-Chung Chang; Hsu-Chi Kuo; Abhijeet Utekar; Huan-Chuang Chih; Maysam F. Abbod; J.S. Shieh
元智大學	2018-10-24	Detecting Defects in PCB using Deep Learning via Convolution Neural Networks	Venkat Anil Adibhatla; J.S. Shieh; Maysam F. Abbod; Huan-Chuang Chih; Chi-Chang Hsu; Joseph Cheng
元智大學	2018	Detecting and Classifying Types of Arrhythmia using Convolution Neural Network	安艾尼; Venkat Anil Adibhatla

显示项目 1-5 / 5 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目