English  |  正體中文  |  简体中文  |  总笔数 :2856640  
造访人次 :  53518204    在线人数 :  842
教育部委托研究计画      计画执行:国立台湾大学图书馆
 		 
搜寻范围 进阶搜寻
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
关于TAIR
计画说明

浏览
典藏机构
作者
题名
日期
统计图表
机构即时统计
学术趋势

消息
2019臺灣學術機構典藏
研討會
機構典藏系統RC7版本已
發佈

著作权
出版社及期刊政策查询
TAIR著作权会议记录

相关连结
機構典藏計畫網站
ROAR
OpenDOAR
SHERPA
OAIster
JAIRO
Ira
DSPACE
RWWR
臺大學術典藏NTU Scholars
台湾机构典藏 TAIR >  依作者浏览

"yan hsin tseng"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序 依日期排序

显示项目 1-10 / 10 (共1页)
1 
每页显示[10|25|50]项目

机构 日期 题名 作者
元智大學 2018-05-20 Defect inspection of liquid-crystal-display (LCD) panels in repetitive pattern images using 2D Fourier image reconstruction Du-Ming Tsai; Morris Fan; Yan Hsin Tseng
元智大學 2018-05-20 Defect Inspection of Liquid-Crystal-Display (LCD) Panels in Repetitive Pattern Images Using 2D Fourier Image Reconstruction Du-Ming Tsai; Yan-Hsin Tseng; S. K. Morris Fan
元智大學 2015-05-18 Surface defect detection in low-contrast images using basis image representation Du-Ming Tsai; Yan-Hsin Tseng; Wei-Yao Chiu
元智大學 2014-10-12 Automatic defect inspection of TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction Du-Ming Tsai; Yan-Hsin Tseng; Wei-Yao Chiu
元智大學 2007-03 One-dimensional-based automatic defect inspection of multiple patterned TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction 蔡篤銘; Su-Ta Chuang; Yan-Hsin Tseng
元智大學 2006-12 Statistical process monitoring using independent component analysis based signal separation techniques 蔡篤銘; Chi-Jie Lu; Chih-Chou Chiu; Yan-Hsin Tseng
元智大學 2006-10 Automatic defect inspection of patterned TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction 蔡篤銘; Su-Ta Chuang; Yan-Hsin Tseng
元智大學 2006-08 Defect detection in low-contrast glass substrates using anisotropic diffusion 蔡篤銘; Shin-Min Chao; Yan-Hsin Tseng; Yuan-Ruei Jhang
元智大學 2006-08 Independent component analysis based filter design for defect detection in low-contrast textured images 蔡篤銘; Yan-Hsin Tseng; Shin-Min Chao; Chao-Hsuan Yen
元智大學 2003 應用機器視覺於TFT面板之表面瑕疵檢測與分類 曾彥馨; Yan-Hsin Tseng

显示项目 1-10 / 10 (共1页)
1 
每页显示[10|25|50]项目

DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT   &  Hewlett-Packard   /   Enhanced by   NTU Library IR team