| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:43:07Z |
Mechanical stability of the CMS strip tracker measured with a laser alignment system
|
Deroover, K.;Favart, L.;Poyraz, D.;Rohringer, H.;Zaganidis, N.;Van Driessche, W.;Van Haevermaet, H.;Delannoy, H.;Asilar, E.;Dvornikov, O.;Krätschmer, I.;Khvastunov, I.;Daci, N.;Beluffi, C.;Randle-Conde, A.;Van De Klundert, M.;Brandstetter, J.;Velde, C. Vander;Rad, N.;Yazgan, E.;Sirunyan, A. M.;Janssen, X.;Tavernier, S.;Matsushita, T.;Van Parijs, I.;Strauss, J.;Zenoni, F.;Shumeiko, N.;Tumasyan, A.;Moreels, L.;Brun, H.;Bergauer, T.;Ghete, V. M.;De Wolf, E. A.;Makarenko, V.;Liko, D.;Van Mechelen, P.;Vanlaer, P.;Flechl, M.;Salva, S.;Tytgat, M.;Clerbaux, B.;Léonard, A.;Dragicevic, M.;Adam, W.;Moortgat, S.;Lenzi, T.;Python, Q.;Karapostoli, G.;De Bruyn, I.;Gonzalez, J. Suarez;Van Doninck, W.;Blekman, F.;Jeitler, M.;Schöfbeck, R.;Maerschalk, T.;Luetic, J.;König, A.;Fagot, A.;Alderweireldt, S.;Zhang, F.;Hörmann, N.;Van Remortel, N.;Brondolin, E.;D'Hondt, J.;Schieck, J.;Yonamine, R.;Fasanella, G.;Marinov, A.;Rabady, D.;Van Spilbeeck, A.;Frühwirth, R.;Hoch, M.;Vannerom, D.;Mikulec, I.;Cimmino, A.;Seva, T.;Lauwers, J.;Wulz, C. E.;Goldouzian, R.;De Lentdecker, G.;Waltenberger, W.;Skovpen, K.;Hartl, C.;Bakhshiansohi, H.;Dobur, D.;Lowette, S.;Rahbaran, B.;Cornelis, T.;Zykunov, V.;Van Mulders, P.;Hrubec, J.;Mossolov, V.;Grebenyuk, A.;Friedl, M.;Olbrechts, A.;Erö, J.;Skovpen, Y.;Zeid, S. Abu;Gul, M.; Gul, M.; Zeid, S. Abu; Skovpen, Y.; Erö, J.; Olbrechts, A.; Friedl, M.; Grebenyuk, A.; Mossolov, V.; Hrubec, J.; Van Mulders, P.; Zykunov, V.; Cornelis, T.; Rahbaran, B.; Lowette, S.; Maerschalk, T.; Schöfbeck, R.; Jeitler, M.; Blekman, F.; Van Doninck, W.; Gonzalez, J. Suarez; De Bruyn, I.; Karapostoli, G.; Python, Q.; Lenzi, T.; Moortgat, S.; Adam, W.; Dragicevic, M.; Léonard, A.; Clerbaux, B.; Tytgat, M.; Salva, S.; Flechl, M.; Vanlaer, P.; Van Mechelen, P.; Liko, D.; Makarenko, V.; De Wolf, E. A.; Ghete, V. M.; Bergauer, T.; Brun, H.; Moreels, L.; Tumasyan, A.; Shumeiko, N.; Zenoni, F.; Strauss, J.; Van Parijs, I.; Matsushita, T.; Tavernier, S.; Janssen, X.; Sirunyan, A. M.; Yazgan, E.; Rad, N.; Velde, C. Vander; Brandstetter, J.; Van De Klundert, M.; Randle-Conde, A.; Beluffi, C.; Daci, N.; Khvastunov, I.; Krätschmer, I.; Dvornikov, O.; Asilar, E.; Delannoy, H.; Van Haevermaet, H.; Van Driessche, W.; Zaganidis, N.; Rohringer, H.; Poyraz, D.; Favart, L.; Deroover, K.; KAI-FENG CHEN; Dobur, D.; Bakhshiansohi, H.; Hartl, C.; Skovpen, K.; Waltenberger, W.; De Lentdecker, G.; Goldouzian, R.; Wulz, C. E.; Lauwers, J.; Seva, T.; Cimmino, A.; Mikulec, I.; Vannerom, D.; Hoch, M.; Frühwirth, R.; Van Spilbeeck, A.; Rabady, D.; Marinov, A.; Fasanella, G.; Yonamine, R.; Schieck, J.; D'Hondt, J.; Brondolin, E.; Van Remortel, N.; Hörmann, N.; Zhang, F.; Alderweireldt, S.; Fagot, A.; König, A.; Luetic, J. |
