| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T06:46:45Z |
Measurement of the near-threshold e+e-→D(*)±D(*) cross section using initial-state radiation
|
Pakhlova, G.; KAI-FENG CHEN; WEI-SHU HOU et al.; Pakhlova, G.; Abe, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Anipko, D.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Bakich, A.M.; Balagura, V.; Barberio, E.; Bay, A.; Bedny, I.; Belous, K.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Blyth, S.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bra?ko, M.; Browder, T.E.; Chang, M.-C.; Chao, Y.; Chen, A.; Chen, K.-F.; Chen, W.T.; Cheon, B.G.; Chistov, R.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choi, Y.K.; Cole, S.; Dalseno, J.; Danilov, M.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Fratina, S.; Gabyshev, N.; Gershon, T.; Gokhroo, G.; Golob, B.; Ha, H.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heffernan, D.; Hokuue, T.; Hoshi, Y.; Hou, S.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Ikado, K.; Imoto, A.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Kaji, H.; Kang, J.H.; Kapusta, P.; Katayama, N.; Kawasaki, T.; Khan, H.R.; Kichimi, H.; Kim, Y.J.; Kinoshita, K.; Krian, P.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuo, C.C.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, J.; Lee, M.J.; Lee, S.E.; Lesiak, T.; Lin, S.-W.; Liventsev, D.; Majumder, G.; Mandl, F.; Matsumoto, T.; Matyja, A.; McOnie, S.; Medvedeva, T.; Mitaroff, W.; Miyake, H.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S.L.; Onuki, Y.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Park, H.; Park, K.S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L.E.; Poluektov, A.; Sakai, Y.; Satoyama, N.; Schneider, O.; Sch?mann, J.; Schwartz, A.J.; Seidl, R.; Senyo, K.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shibuya, H.; Shwartz, B.; Singh, J.B.; Somov, A.; Soni, N.; Stani?, S.; Stari?, M.; Stoeck, H.; Suzuki, S.Y.; Takasaki, F.; Tamai, K.; Tanaka, M.; Taylor, G.N.; Teramoto, Y.; Tian, X.C.; Tikhomirov, I.; Tsuboyama, T.; Tsukamoto, T.; Uehara, S.; Uglov, T.; Ueno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Varner, G.; Villa, S.; Wang, C.H.; Watanabe, Y.; Won, E.; Xie, Q.L.; Yabsley, B.D.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; Zhang, C.C.; Zhang, Z.P.; Zhilich, V.; Zupanc, A. |
