臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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"莊紹勳"

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國立交通大學	2014-12-12T01:27:11Z	二氧化鉿薄膜電阻式隨機存取記憶體之轉換機制及可靠度探討	王振鵬; Wang, Jen-Peng; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:27:07Z	隨機電報訊號量測於高閘極介電層N通道金氧半電晶體汲極電流波動之探討	張健宏; Chang, Chien-Hung; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:27:03Z	奈米級蕭特基金氧半場效電晶體之載子傳輸特性與通道背向散射研究	鄧安舜; Teng, An-Shun; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:27:01Z	隨機電報訊號量測法應用於前瞻CMOS元件應變技術引致的汲極電流不穩定性之研究	林米華; Lin, Mi-Hua; 莊紹勳; Chung, Steve S.
國立交通大學	2014-12-12T01:13:51Z	以鉿為基底之高介電常數閘極介電層之N通道金氧半電晶體可靠度探討	曾友良; Yu-Liang Tseng; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:49Z	探討高閘極介電層N通道金氧半電晶體的新穎閘極電流隨機電報量測法	張家銘; Chia-Ming Chang; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:48Z	二位元SONOS快閃式記憶體之物理機制與可靠性探討	郭建鴻; Jian-Hung Kuo; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:44Z	奈米應變矽元件載子傳輸模型分析與其可靠度相關性探討	張文彥; Derrick W. Chang; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:41Z	一種改良的介面缺陷之橫向剖面分析應用於奈米級應變矽CMOS元件之可靠度探討	謝易叡; E Ray Hsieh; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:04Z	低電壓且高速操作的P通道快閃式記憶體元件性能及可靠性研究	黃耀賢; Yao-Hsien Huang; 莊紹勳; Steve S. Chung

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