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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-13T10:31:32Z 高介電氧化層奈米CMOS元件可靠性關鍵問題及界面量測技術研究(II) 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:31:15Z 張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(I) 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:31:11Z 採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(II) 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:31:03Z 高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計---元件至電路的考量(I) 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:29:57Z 採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(III) 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:29:56Z 張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(II) 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:29:48Z 高速操作及高資料保存特性SONOS型式快閃記憶體之研究 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:29:10Z 混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-13T10:28:38Z 高速操作及高資料保存特性SONOS型式快閃記憶體之研究 莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學 2014-12-12T03:02:35Z 奈米應變矽CMOS元件之通道背向散射特性與可靠度之相關性研究 蔡亞峻; Ya-Jing Tsai; 莊紹勳; Steve Chung

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