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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-12T02:28:12Z	高頻CMOS元件基板SPICE模型建立	林旭益; Shiuyi Lin; 莊紹勳; Dr. Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:28:05Z	利用汲極端包覆性植入結構改善快閃記憶體的性能與可靠性之研究	林新富; Lin Hsin-Fu; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:28:04Z	利用閘二極體量測法評估雙閘極金氧半電晶體的熱載子和負偏壓溫度可靠性	羅大剛; Da-Kang Lo; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:25:37Z	用於射頻積體電路模擬的閘極電阻準確模型	林漢紋; Hann-Wen Lin; 莊紹勳; Dr. Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:25:37Z	使用多重氧化層技術成長之雙閘極金氧半元件偏壓與溫度效應之可靠性研究	林清淳; Ching-Chung Lin; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:25:37Z	利用汲極崩潰熱電子注入操作的快閃式記憶體元件性能及可靠性研究	陳映仁; Yin Jen Chen; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:25:36Z	不同浮動閘極材料P通道快閃記憶體性能與可靠性之改進	蔡皓偉; Hao-Wei Tsai; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:24:32Z	高介電氧化層MOSFET元件之低漏電電荷幫浦量測技術	朱益輝; Yi - Huei Ju; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:24:12Z	應變矽奈米CMOS元件的熱載子可靠性研究與分析	劉又仁; You-Ren Liu; 莊紹勳; Dr. Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:23:59Z	不同界面層與環狀植入對高介電氧化層CMOS元件可靠性影響之研究	李冠德; Guan-De Lee; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:23:54Z	氮化矽記憶體元件資料保存及耐久性之探討	陳靖泓; Ching Hong Chen; 莊紹勳; Dr. Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:23:21Z	應用於電路模擬器含有溫度效應的複晶矽薄膜電晶體模式	曾當貴; Tang Kui Tseng; 莊紹勳; Steven S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:23:21Z	一種用於低功率及高效率快閃式記憶體之新型寫入方式	莊子慶; Tze-Chihng Chuang; 莊紹勳; S. S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:23:21Z	以基極偏壓增強熱電子注入操作的快閃式記憶元件可靠性研究	羅思覺; Sze-Jua Luo; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:23:17Z	不同浮動閘極材料N通道快閃記憶體資料保存特性研究	吳柏璋; Bo-chang Wu; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:23:17Z	電荷幫浦法於薄閘極氧化層淺接面延伸結構之N型金氧半元件電漿蝕刻傷害之研究	高瑄苓; Hsuan-ling Kao; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:20:51Z	N與P通道快閃記憶體性能與可靠性之比較研究	廖勝泰; Shen-Tai Liaw; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:20:51Z	利用P型浮動閘極材料改善N通道快閃記憶體的性能與可靠性之研究	何之浩; Zhi-Hao Ho; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:20:51Z	可用於快閃式記憶體反覆寫入抹除前後之直流與暫態模式	吳尚修; Shang-Hsiu Wu; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:20:51Z	淺凹槽隔離深次微米互補金氧半元件窄寬度效應熱載子可靠性的研究	楊文杰; Wen-Jei Yang; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:20:50Z	快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究	易成名; Cherng-Ming Yih; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:19:42Z	單調迭代法半導體元件方程式數值解	李義明; Li, Yi-Ming; 劉晉良; 莊紹勳; Liu, Jinn-Liang; Steve Chung, S.
國立交通大學	2014-12-12T02:18:22Z	次微米N型MOS元件中反向短通道效應之模式及其特性分析	鄭水明; 莊紹勳
國立交通大學	2014-12-12T02:17:33Z	高介電係數夾層LDD N型金氧半元件可靠性設計之探討	王政烈; Wang, Cheng-Lieh; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:17:32Z	P通道金屬半快閃式記憶體中不同程式化的可靠性評估	郭松年; Kuo, Song-Nian; 莊紹勳; Steve S. Chung

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