臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-12T02:20:50Z	快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究	易成名; Cherng-Ming Yih; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:19:42Z	單調迭代法半導體元件方程式數值解	李義明; Li, Yi-Ming; 劉晉良; 莊紹勳; Liu, Jinn-Liang; Steve Chung, S.
國立交通大學	2014-12-12T02:18:22Z	次微米N型MOS元件中反向短通道效應之模式及其特性分析	鄭水明; 莊紹勳
國立交通大學	2014-12-12T02:17:33Z	高介電係數夾層LDD N型金氧半元件可靠性設計之探討	王政烈; Wang, Cheng-Lieh; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:17:32Z	P通道金屬半快閃式記憶體中不同程式化的可靠性評估	郭松年; Kuo, Song-Nian; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:15:40Z	次微米MOS元件中熱電子導致氧化層傷害及元件特性退化分析	李建宏; Lee, Giahn-Horng; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:15:38Z	供電路模擬器SPICE使用之複晶矽薄膜電晶體模式	鄭基廷; Cheng, Chi-Ting; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:15:32Z	半空乏型矽氧化絕緣基片MOS元件之熱電子可靠性	葉俊祺; Yeh, Jun-Chyi; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:13:52Z	交換電流式積分器之設計及其在濾波器設計上之應用	詹瑞德; Luem Te Chan; 莊紹勳; Steve Shao-Shiun Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:13:49Z	不同氧化層厚度次微米 LDD MOS 元件中熱載子導致元件的退化分析	吳俊沛; Jiunn-Pey Wu; 莊紹勳; Steve Shao-Shiun Chung

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