臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-13T10:49:24Z	用於快閃式記憶元件及電路性能與可靠性模擬的元件模式	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:48:12Z	混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:48:01Z	高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計-元件至電路的考量 (II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:46:04Z	奈米CMOS元件不均勻、雜和氧化層缺陷導致臨限電壓變異之研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:45:16Z	下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:43:18Z	先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:42:09Z	下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:41:33Z	先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:40:23Z	次微米MOS元件在非熱平衡下含氧化層傷害之熱電子閘極電流模式	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:39Z	EPROM記憶元件中熱電子效應的可靠性研究	莊紹勳; Chung Steve S

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