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机构	日期	题名	作者
元智大學	2003-12	Analysis of LPC data for wafer yield improvement using a combined data mining and visualization technique	孫天龍; 蔡智政
元智大學	2002-12	Analysis of LPC data for wafer yield improvement using a combined data mining and visualization technique	孫天龍; 羅國弘; 蔡智政
元智大學	2002	應用CART決策樹與資料視覺技術於低良率晶圓成因探討	蔡智政

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