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机构	日期	题名	作者
元智大學	2007-04	自動沿邊雷射切割紡織品方法	江行全; 蔡篤銘; 朱建政; 趙新民; 林永銘
元智大學	2007-04	自動沿邊雷射切割紡織品方法	江行全; 蔡篤銘; 朱建政; 趙新民; 林永銘
元智大學	2007-03	One-dimensional-based automatic defect inspection of multiple patterned TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction	蔡篤銘; Su-Ta Chuang; Yan-Hsin Tseng
元智大學	2006-12	Statistical process monitoring using independent component analysis based signal separation techniques	蔡篤銘; Chi-Jie Lu; Chih-Chou Chiu; Yan-Hsin Tseng
元智大學	2006-10	Automatic defect inspection of patterned TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction	蔡篤銘; Su-Ta Chuang; Yan-Hsin Tseng
元智大學	2006-09	An independent component analysis-based filter design for defect detection in low-contrast surface images	蔡篤銘; Ping-Chieh Lin; Chi-Jie Lu
元智大學	2006-08	Defect detection in low-contrast glass substrates using anisotropic diffusion	蔡篤銘; Shin-Min Chao; Yan-Hsin Tseng; Yuan-Ruei Jhang
元智大學	2006-08	Independent component analysis based filter design for defect detection in low-contrast textured images	蔡篤銘; Yan-Hsin Tseng; Shin-Min Chao; Chao-Hsuan Yen
元智大學	2006-06	Independent component analysis based motion detection for indoor surveillance	Shin-Min Chao (趙新民); 蔡篤銘
元智大學	2006-06	Independent component analysis based disturbance separation for statistical process control	Chi Jie Lu (呂奇傑); 蔡篤銘; Chih Chou Chiu (邱志洲); Yan-Hsin Tseng (曾彥馨)
元智大學	2006-05	Using independent component analysis based process monitoring in TFT-LCD manufacturing	Y. H. Tseng (曾彥馨); 蔡篤銘
元智大學	2006-04	應用機器視覺於液晶螢幕面板表面瑕疵檢測	江行全; 蔡篤銘; 王建智
元智大學	2006-03	Astronomical image restoration using an improved anisotropic diffusion	蔡篤銘; Shin-Min Chao
元智大學	2006-01	Full-field 3D measurement of solder pastes using LCD-based phase shifting techniques	蔡篤銘; Hsu-Nan Yen; Jun-Yi Yang
元智大學	2005-12	Using independent component analysis based process monitoring in TFT-LCD manufacturing	曾彥馨; 蔡篤銘
元智大學	2005-12	An anisotropic diffusion-based defect detection for low-contrast LCD glass substrates	趙新民; 蔡篤銘
元智大學	2005-12	應用獨立成份分析(ICA)濾波器於TFT-LCD面板之瑕疵檢測	蔡篤銘; 呂奇傑; 林品杰
元智大學	2005-12	An anisotropic diffusion-based defect detection for backlight panels	Shin-Min Chao (趙新民); 蔡篤銘
元智大學	2005-12	Defect detection of backlight panel surfaces using independent component analysis filering scheme	蔡篤銘; Chi-Jie Lu (呂奇傑); Ping-Chieh Lin (林品杰); Yan-Hsin Tseng (曾彥馨)
元智大學	2005-11	An eigenvalue-based similarity measure and its application in defect detection	蔡篤銘; R. H. Yang (楊榮華)
元智大學	2005-11	Automatic defect inspection of patterned thin film transistor-liquid crystal display (TFT-LCD) panels using one-dimensional Fourier reconstruction and wavelet decomposition	蔡篤銘; C. Y. Hung (洪崇祐)
元智大學	2005-10	A quantile-quantile plot based pattern matching for defect detection	蔡篤銘; C. H. Yang (楊呈翔)
元智大學	2005-10	應用獨立成份分析濾波器於背光板與TFT-LCD面板之瑕疵檢測	蔡篤銘; 林品杰; 曾彥馨
元智大學	2005-08	Automatic defect inspection for LCDs using singular value decomposition	C. J. Lu (呂奇傑); 蔡篤銘
元智大學	2005-08	Astronomical image restoration using anisotropic diffusion	Shin-Min Chao (趙新民); 蔡篤銘

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