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機構	日期	題名	作者
元智大學	2006-05	Using independent component analysis based process monitoring in TFT-LCD manufacturing	Y. H. Tseng (曾彥馨); 蔡篤銘
元智大學	2006-04	應用機器視覺於液晶螢幕面板表面瑕疵檢測	江行全; 蔡篤銘; 王建智
元智大學	2006-03	Astronomical image restoration using an improved anisotropic diffusion	蔡篤銘; Shin-Min Chao
元智大學	2006-01	Full-field 3D measurement of solder pastes using LCD-based phase shifting techniques	蔡篤銘; Hsu-Nan Yen; Jun-Yi Yang
元智大學	2005-12	Using independent component analysis based process monitoring in TFT-LCD manufacturing	曾彥馨; 蔡篤銘
元智大學	2005-12	An anisotropic diffusion-based defect detection for low-contrast LCD glass substrates	趙新民; 蔡篤銘
元智大學	2005-12	應用獨立成份分析(ICA)濾波器於TFT-LCD面板之瑕疵檢測	蔡篤銘; 呂奇傑; 林品杰
元智大學	2005-12	An anisotropic diffusion-based defect detection for backlight panels	Shin-Min Chao (趙新民); 蔡篤銘
元智大學	2005-12	Defect detection of backlight panel surfaces using independent component analysis filering scheme	蔡篤銘; Chi-Jie Lu (呂奇傑); Ping-Chieh Lin (林品杰); Yan-Hsin Tseng (曾彥馨)
元智大學	2005-11	An eigenvalue-based similarity measure and its application in defect detection	蔡篤銘; R. H. Yang (楊榮華)
元智大學	2005-11	Automatic defect inspection of patterned thin film transistor-liquid crystal display (TFT-LCD) panels using one-dimensional Fourier reconstruction and wavelet decomposition	蔡篤銘; C. Y. Hung (洪崇祐)
元智大學	2005-10	A quantile-quantile plot based pattern matching for defect detection	蔡篤銘; C. H. Yang (楊呈翔)
元智大學	2005-10	應用獨立成份分析濾波器於背光板與TFT-LCD面板之瑕疵檢測	蔡篤銘; 林品杰; 曾彥馨
元智大學	2005-08	Automatic defect inspection for LCDs using singular value decomposition	C. J. Lu (呂奇傑); 蔡篤銘
元智大學	2005-08	Astronomical image restoration using anisotropic diffusion	Shin-Min Chao (趙新民); 蔡篤銘
元智大學	2005-08	Using Independent Component Analysis for Process Monitoring in TFT-LCD Manufacturing	Yan-Hsin Tseng (曾彥馨); 蔡篤銘
元智大學	2005-06	Optimal multi-thresholding using a hybrid optimization approach	何怡偉; 范書愷; 蔡篤銘
元智大學	2005-04	Defect detection in colored texture surfaces using Gabor filters	蔡篤銘; C.-P. Lin (林志賓); K.-T. Huang (黃國唐)
元智大學	2005-04	全場三維量測系統	顏旭男; 蔡篤銘
元智大學	2005-04	全場三維量測系統	顏旭男; 蔡篤銘
元智大學	2005-03	An anisotropic diffusion-based defect detection for sputtered surfaces with inhomogeneous textures	蔡篤銘; S.-M. Chao (趙新民)
元智大學	2004-12	LCD surface defect inspection using machine vision	江行全; 蔡篤銘; C. C. Wang; C. J. Liu
元智大學	2004-12	Defect Inspection of Patterned TFT-LCD Panels Usinga Fast Sub-image Based SVD	C.-J. Lu (呂奇傑); 蔡篤銘
元智大學	2004-12	Defect Detection of Patterned TFT-LCD Surfaces Using Independent Component Analysis	C.-J. Lu (呂奇傑); 蔡篤銘
元智大學	2004-10	Defect inspection of patterned thin film transistor-liquid crystal display panels using a fast sub-image-based singular value decomposition	C.-J. Lu(呂奇傑); 蔡篤銘

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