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机构 日期 题名 作者
元智大學 2005-08 Using Independent Component Analysis for Process Monitoring in TFT-LCD Manufacturing Yan-Hsin Tseng (曾彥馨); 蔡篤銘
元智大學 2005-06 Optimal multi-thresholding using a hybrid optimization approach 何怡偉; 范書愷; 蔡篤銘
元智大學 2005-04 Defect detection in colored texture surfaces using Gabor filters 蔡篤銘; C.-P. Lin (林志賓); K.-T. Huang (黃國唐)
元智大學 2005-04 全場三維量測系統 顏旭男; 蔡篤銘
元智大學 2005-04 全場三維量測系統 顏旭男; 蔡篤銘
元智大學 2005-03 An anisotropic diffusion-based defect detection for sputtered surfaces with inhomogeneous textures 蔡篤銘; S.-M. Chao (趙新民)
元智大學 2004-12 LCD surface defect inspection using machine vision 江行全; 蔡篤銘; C. C. Wang; C. J. Liu
元智大學 2004-12 Defect Inspection of Patterned TFT-LCD Panels Usinga Fast Sub-image Based SVD C.-J. Lu (呂奇傑); 蔡篤銘
元智大學 2004-12 Defect Detection of Patterned TFT-LCD Surfaces Using Independent Component Analysis C.-J. Lu (呂奇傑); 蔡篤銘
元智大學 2004-10 Defect inspection of patterned thin film transistor-liquid crystal display panels using a fast sub-image-based singular value decomposition C.-J. Lu(呂奇傑); 蔡篤銘

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