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"蔡銘謙"的相关文件
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| 國立交通大學 |
2015-11-26T01:02:20Z |
奈米磁鐵FePt在PN接面二極體結構之磁電耦合特性
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蔡銘謙; Tsai Ming-Chian; 張俊彥; Chang, Chun-Yen |
| 國立交通大學 |
2015-05-12T02:59:33Z |
用以量測偏壓溫度效應之環形震盪器
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莊景德; 周世傑; 黃威; 蔡銘謙; 林宜緯; 楊皓義; 杜明賢; 石維強; 連南鈞; 李坤地 |
| 國立交通大學 |
2014-12-16T06:13:37Z |
臨界電壓量測裝置
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莊景德; 周世傑; 林耕慶; 王紹丞; 林宜緯; 蔡銘謙; 石維強; 連南鈞; 李坤地; 朱俊愷 |
| 國立交通大學 |
2014-12-16T06:11:49Z |
以六電晶體為基礎架構之靜態隨機記憶體陣列
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莊景德; 周世傑; 黃威; 林宜緯; 蔡銘謙; 楊皓義; 杜明賢; 石維強; 連南鈞; 李坤地 |
| 國立交通大學 |
2014-12-16T06:11:49Z |
用以量測偏壓溫度效應之環形震盪器
|
莊景德; 周世傑; 黃威; 蔡銘謙; 林宜緯; 楊皓義; 杜明賢; 石維強; 連南鈞; 李坤地 |
| 國立交通大學 |
2014-12-16T06:11:47Z |
臨界電壓量測裝置
|
莊景德; 周世傑; 林耕慶; 王紹丞; 林宜緯; 蔡銘謙; 石維強; 連南鈞; 李坤地; 朱俊愷 |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:37:35Z |
奈米級CMOS靜態隨機存取記憶體之負/正偏壓溫度效應劣化現象與雜訊邊界量測電路
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蔡銘謙; Tsai, Ming-Chien; 周世傑; Jou, Shyh-Jye |
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