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机构	日期	题名	作者
亞洲大學	2009	Comparison of High Voltage (200-300 Volts) Devices for Power Integrated Circuits	許健;Sheu, Gene;楊紹明;Yang, Shao-Ming;曹世昌;Tsaur, Shyh-Chang
亞洲大學	2009	The Reliability of 200V P-channel Silicon-On-Insulator LDMOS on High Side operation	楊紹明;Yang, Shao-Ming;許健;Sheu, Gene

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