臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
南台科技大學	2002	低溫ITO製程在OLED應用之研究	許進明
南台科技大學	2002	有機電激發光裝置之封裝開發	鄭錫恩 ; 許進明 ; Hsu, Ching-Ming
南台科技大學	2002	The Study on Temperature Effect to the Characteristics of DC Magnetron Sputtered ITO Films	許進明; Ching-Ming Hsu; Jan-Shin Chen; Cheng-Yan Huang; Jin-Chang Lin
南台科技大學	2002	ITO透明導電膜製程最佳化之探討	陳建興; 許進明
南台科技大學	2002	電場輔助矽膜低溫結晶	陳建興; 許進明
南台科技大學	2002	The preparation of ITO electrodes for OLED by DC magnetron sputtering without the use of photolithography and etching processing	許進明; C.M. Hsu; J.S. Chen; C.Y. Huang; J.C. Lin
南台科技大學	2001	未摻雜GaN緩衝層對MOCVD成長之n-GaN磊晶膜品質的影響	張智傑; 蘇炎坤; 楊昌義; 莊賦祥; 王永昇; 林俊良; 許進明; 管鴻
南台科技大學	1998	The Trend of TFT_LCD Process System	許進明; C.M. Hsu
南台科技大學	1996	SIMS Linescan Profiling of Chemically Bevelled Semiconductors : A Method of Overcoming Ion Beam Induced Segregation in Depth Profiling	許進明; C.M. Hsu; D.S. McPhail
南台科技大學	1995	A newly developed chemical bevelling technique used for depth independent high depth resolution SIMS analysis	許進明; C. M. Hsu; D. S. McPhail
南台科技大學	1995	SIMS analysis of Al -doped GaAs test structures using chemical bevelling as a sample preparation technique	許進明; C.M. Hsu; V.K.M. Sharma; M.J. Ashwin; D.S. McPhail
南台科技大學	1995	Newly Developed Chemical Bevelling Technique Used for SIMS Analysis of GaAs based semiconductor structures	許進明; C. M. Hsu; D. S. McPhai
南台科技大學	1994	A method of improving the SIMS analysis of Si in GaAs by monitoring SiO2− ions at oblique angles of bombardment	許進明; V.K.M. Skarma; D.S. McPhail; C.M. Hsu; M.R. Fahy
南台科技大學	1993	The Application of AAS in MBE System as a Monolayer Monitor	許進明; C.M. Hsu
南台科技大學	1993	S-Gun濺鍍系統之原理及應用	許進明
南台科技大學	1992	S-Gun 濺鍍系統之原理及應用	許進明; C.M. Hsu
南台科技大學	1989	Low pressure chemical vapor deposition of Aluminum Nitride thin film	許進明; C.H. Lee;C.M. Hsu

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