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机构	日期	题名	作者
中原大學	2006-02-16	局部閘氧化層崩潰於金氧半場效電晶體之研究	謝添哲; Tien-Che Hsieh
中原大學	2005-11	Investigation of Localized Gate Oxide Breakdown in n-MOSFETs	Hsieh, Tien-Che;Kung, Wei-Chain;Wang, Zih-Wun;Jeng, Erik-S.;謝添哲;鄭湘原

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