臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立高雄第一科技大學	2003/07/31	量測物體位移至次奈米級解析度之設備與方法	錢志回; 吳以德; 陳太平; 陳永昌; 謝其昌; 邱以泰; 王中鼎; 蔡明郎
國立中山大學	2003-12	光纖連接器之終端模組受熱循環負載下應力及疲勞壽命之研究	錢志回; 陳太平; 林啟超; 邱以泰; 謝其昌; 吳以德; 陳永昌
國立中山大學	2003	微型燃料電池元件之設計與製作---子計畫三：微型燃料電池元件於微機電加工製程時之可靠度分析(II)	錢志回;邱以泰;陳太平; Chi-Hui Chien;Yii-Tay Chiou;Thai-Ping Chen
國立中山大學	2002	SOC構裝經溫度循環可靠度測試之應力分析	邱以泰; 錢志回; 吳以德; 陳聖偉
國立中山大學	2001-12	PBGA 構裝體於IR-Reflow 過程下變形機制之探討	錢志回; 邱以泰; 吳以德; 汪哲鳴
國立中山大學	2001	應用全像干涉術量測半導體構裝體介面接著性之研究應用全像干涉術量測半導體構裝體介面接著性之研究	錢志回; 邱以泰; Chi-Hui Chien; Yii-Tay Chiou
國立中山大學	2000-12	半導體構裝體於不同溫濕保存環境下經IR-reflow 過程後翹曲現象之研究	錢志回; 洪健雄; 蔡明郎; 邱以泰
國立中山大學	2000-12	全像干涉術應用於半導體構裝經IR-reflow 過程中在不同溫昇速率及停留溫高下翹曲之研究	邱以泰; 錢志回; 蔡明郎; 張志方
國立中山大學	1999-12	全像干涉術於半導體構裝經由 IR-reflow 過程後翹曲量測之研究	邱以泰; 錢志回; 洪子欽
國立中山大學	1999-12	電子構裝體ＰＱＦＰ翹曲現象之研究	錢志回; 曾世霖; 邱以泰

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