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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2005-07-06	應用因次分析法於奈米壓痕試驗之理論分析與數值模擬：殘留應力、基材效應與黏彈性質之研究	陳拓丞; Chen, Tuo-Cheng
國立成功大學	2005-07-06	應用因次分析法於奈米壓痕試驗之理論分析與數值模擬：殘留應力、基材效應與黏彈性質之研究	陳拓丞; Chen, Tuo-Cheng

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